Abstract

COELLO, V. et al. Near-field microscopy of evanescent microwaves. Rev. mex. fis. [online]. 2005, vol.51, n.4, pp.426-430. ISSN 0035-001X.

El control local de microondas evanescentes es investigado experimentalmente usando un microscopio de barrido de campo cercano en el rango de microondas. Las capacidades del microscopio y la contribución, en las imágenes de campo cercano, de componentes de campo propagativas que proviene de esparcimiento inelástico (fuera del plano) fueron investigadas. Un sistema de espejos bidimensional que sirven para un control local de modos evanescentes es mostrado junto con su correspondiente imagen de cercano-campo y su eficacia es discutida. Nosotros creemos que la aproximación experimental presentada es confiable para ser utilizada como prueba potencial de micro-componentes (de dos dimensiones) y eventualmente para micro y nano-circuitos.

Keywords : Microscopía óptica de barrido en campo cercano; radiación de microondas; óptica de ondas.