SciELO - Scientific Electronic Library Online

 
vol.51 issue4Near-field microscopy of evanescent microwaves author indexsubject indexsearch form
Home Pagealphabetic serial listing  

Services on Demand

Journal

Article

Indicators

Related links

  • Have no similar articlesSimilars in SciELO

Share


Revista mexicana de física

Print version ISSN 0035-001X

Abstract

MARTINEZ, A. et al. Técnicas ópticas para el contorneo de superficies tridimensionales. Rev. mex. fis. [online]. 2005, vol.51, n.4, pp.431-436. ISSN 0035-001X.

Se presentan algunos sistemas sin contacto para la recuperación de la topografía de objetos tridimensionales. Entre ellos están los sistemas ópticos basados en la técnica de proyección de franjas incoherente, interferometría Talbot e interferometría de moteado. En la técnica de proyección de franjas incoherente, se inicia la digitalización al proyectar sobre el objeto una serie de líneas blancas y negras cuya imagen sobre la pieza es registrada por una cámara CCD. En interferometría Talbot, el objeto a digitalizar es colocado en uno de los planos de las autoimágenes de una rejilla. Posteriormente, se capta con una CCD la imagen del objeto con la rejilla proyectada ahora deformada. Ésta es superpuesta con una rejilla generada sintéticamente, formando así un patrón de franjas de moiré, el cual nos dará información de la topografía del objeto bajo prueba. Para el caso de interferometría de moteado, el objeto es iluminado dual y simétricamente a un ángulo θ con respecto al eje óptico. Se capta una imagen inicial y una segunda imagen después de rotar el objeto un ángulo Δθ. Procesando ambas imágenes se obtiene información de la profundidad del objeto bajo estudio. Como ejemplo de objetos digitalizados se presentan una parte automotriz, una membrana metálica la cual forma parte de un empaquetamiento conocido comercialmente como "gasket", una horma de calzado, entre otros. Se discutirán las ventajas e inconvenientes de las técnicas utilizadas.

Keywords : Metrología óptica; proyección de franjas; interferometría de Talbot; interferometría de moteado.

        · abstract in English     · text in Spanish     · Spanish ( pdf )

 

Creative Commons License All the contents of this journal, except where otherwise noted, is licensed under a Creative Commons Attribution License