Abstract

MARTINEZ, J.A.; VALENZUELA, J.; HERNANDEZ, M.P.  and  HERRERA, J.. Automatización de un microscopio de barrido por efecto túnel utilizando una tarjeta OMB-DaqBoard/2000 y LabVIEW. Rev. mex. fis. [online]. 2016, vol.62, n.1, pp.45-50. ISSN 0035-001X.

El artículo muestra el trabajo para la automatización y control de un microscopio de barrido por efecto túnel (STM) construido por los autores. La interfase entre la computadora y el microscopio ha sido implementada por medio de una tarjeta de adquisicion de datos OMB-DaqBoard/2000. Un programa desarrollado en LabVIEW genera las seriales requeridas para el barrido X-Y, y simultáneamente adquiere los voltajes de Z relacionados con la corriente de tunel entre la punta y la muestra. El programa construye la imagen de microscopia de la superficie estudiada a partir de los voltajes Z. El proceso para la calibration del instrumento utilice) imágenes de resolución atómica de superficies conocidas.

Keywords : Microscopía de barrido por efecto túnel; instrumentación para microscopía; adquisición de datos.