Resumen

PALAVICINI, C.; JAOUEN, Y.; GALLION, P.  y  CAMPUZANO, G.. Caracterización de componentes fotónicos utilizando reflectometría optica de baja coherencia. Rev. mex. fis. [online]. 2006, vol.52, n.4, pp.379-386. ISSN 0035-001X.

La reflectometría óptica de baja coherencia ha sido aplicada a la caracterización de nuevos componentes ópticos utilizados en sistemas de telecomunicaciones emergentes. Esta técnica no destructiva y versátil, permite la detección, localización y cuantificación de discontinuidades existentes en los componentes fotónicos, obteniendo así una informacion precisa y directa sobre las propiedades ópticas de dichos componentes.

Palabras llave : Reflectometría de baja coherencia; caracterización de dispositivos fotonicos.

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