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Revista mexicana de física
versión impresa ISSN 0035-001X
Resumen
GERVACIO ARCINIEGA, J.J.; PROKHOROV, E. y ESPINOZA BELTRAN, F.J.. Propiedades ferroeléctricas de películas delgadas de GeSbTe. Rev. mex. fis. [online]. 2011, vol.57, n.2, pp.172-175. ISSN 0035-001X.
El objetivo de este trabajo es investigar y comparar las propiedades ferroeléctricas de películas delgadas de Ge4Sb1Te5 (con propiedades ferroeléctricas bien definidas) y Ge2Sb2Te5 usando técnicas de impedancia, reflexión óptica, XRD, DSC y de microscopia de fuerza por piezorrespuesta. La dependencia de la capacitancia con la temperatura en ambos materiales muestra un cambio abrupto a la temperatura que corresponde a la transición ferroeléctrico-paraeléctrico y la dependencia tipo Curie-Weiss. En las películas de Ge2Sb2Te5 esta transición corresponde al fin de la transformación de la estructura tipo NaCl a la hexagonal. La microscopia de fuerza por piezorespuesta halló dominios ferroeléctricos de dimensiones aproximadamente iguales a la de los granos.
Palabras llave : ferroeléctrico; dominios; capacitancia; dependencia Curie-Weiss.