Resumen

GALICIA, R. et al. A program for phase identification using diffractograms obtained from TEM structure images. Rev. mex. fis. [online]. 2013, vol.59, n.2, pp.102-106. ISSN 0035-001X.

Se presenta un programa de computo que ayuda a identificar los planos cristalográficos (indexar difractogramas) que aparecen al aplicar la Transformada Rápida de Fourier (FFT) a una imagen digital de alta resolución obtenida con un microscopio electrónico de transmisión de alta resolución. El programa requiere el uso de los archivos de Rayos X de uso común y de un programa que obtenga la FFT, para este caso se utiliza el software de Digital Micrograph.

Palabras llave : Microscopia electrónica; rayos X; difractogramas; indexación.

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