SciELO - Scientific Electronic Library Online

 
vol.18 número4Fabricación de guías de onda ópticas en silicio utilizando óxido de silicio y nitruro de silicioSynthesis and characterization of LiNiO 2 targets for thin film deposition by pulsed laser ablation índice de autoresíndice de materiabúsqueda de artículos
Home Pagelista alfabética de revistas  

Servicios Personalizados

Revista

Articulo

Indicadores

Links relacionados

  • No hay artículos similaresSimilares en SciELO

Compartir


Superficies y vacío

versión impresa ISSN 1665-3521

Resumen

SALDANA, Xóchitl I.  y  ARRIAGA, J.. Estudio de la reflectancia en cristales fotónicos unidimensionales con índice de refracción de envolvente gaussiana. Superf. vacío [online]. 2005, vol.18, n.4, pp.24-26. ISSN 1665-3521.

We present calculations of the reflectance of TE and TM polarized electromagnetic waves versus. the total layer structure to wavelength ratio and the incident angle for a unidimensional photonic crystal with refractive indices following a gaussian envelope, in this case we use the transfer matrix method. We find that tuning of the total reflectance for TE and TM polarizations for all incident angles in a specific spectral range is possible if we make a proper choice of the parameters characterizing the structure.

Palabras llave : Reflectance; One-dimensional photonic crystal.

        · resumen en Español     · texto en Español