Resumo

AGUILAR, J.O. et al. Degradación de películas delgadas de sulfuro de cobre en ambiente costero. Superf. vacío [online]. 2010, vol.23, n.1, pp.6-12. ISSN 1665-3521.

Se presenta la tasa de degradación óptica de películas delgadas semiconductoras de sulfuro de cobre expuestas al medio ambiente. Los análisis de composición química realizados con EDAX (Energy Dispersive Analysis X-Ray) mostraron un incremento de oxígeno (3.6% a 9.5% w/w) en películas expuestas al ambiente en comparación con las almacenadas en bolsas plásticas, lo que ocasiona una rápida degradación. La caracterización óptica de las películas semiconductoras muestra que conforme transcurre el tiempo, la transmitancia aumenta en las regiones ultravioleta, visible, y cercano infrarrojo. Esta variación en los parámetros ópticos está estrechamente relacionada con la reducción del contenido de cobre en las películas de CuS.

Palavras-chave : Películas delgadas; Degradación; Transmitancia óptica; Reflectancia especular.

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