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Revista mexicana de física
versión impresa ISSN 0035-001X
Rev. mex. fis. vol.52 supl.3 México may. 2006
Óptica
Quantification and differentiation of nuclear tracks in solid state detectors by simulation of their diffraction pattern applying Fourier optics
D. Palacios*, F. Palacios** and T. Viloria***
* Universidad Simón Bolívar, P.O. 89000, Caracas, Venezuela, email: palacios@usb.ve
** Universidad de Oriente, Santiago de Cuba, Cuba, email: ofs@ofs.uo.edu.cu
*** Universidad del Zulia, Maracaibo, Venezuela, email: tviloria63@yahoo.es
Recibido el 13 de enero de 2004
Aceptado el 12 de octubre de 2004
Abstract
The proposed method to count and differentiate nuclear tracks in Solid State Detectors is based on digital simulation and analysis of the Fraunhofer diffraction pattern, formed when coherent light passes through tracks in an etched detector. Analytical and numerical models were developed using, as transformation element, an optical system and a digital procedure of the Fourier Transform, respectively. Different components of developed software are described, and depending on the kind of detector used, variants of optical microscopy are suggested. The proposed method allows to calculate real track density and to differentiate tracks by their diameters.
Keywords: Track counting and discrimination; passive detectors; Fraunhofer diffraction pattern; Fourier transform.
Resumen
El método propuesto para contar y diferenciar trazas nucleares en detectores de estado sólido se basa en la simulación digital y el análisis del patrón de difracción de Fraunhofer, formado cuando un haz de luz coherente pasa a través de trazas en un detector revelado. Se desarrollaron modelos analíticos y numéricos usando como elemento de transformación un sistema óptico y un procedimiento digital de Transformada de Fourier, respectivamente. Se describen los diferentes componentes del software desarrollado y se sugieren variantes técnicas de microscopía optica. El método propuesto permite calcular la densidad de trazas y diferenciarlas por sus diámetros.
Descriptores: Conteo y discriminación de trazas; detectores pasivos; patrón de difracción de Fraunhofer; transformada de Fourier.
PACS: 29.40.Wk; 42.25.Fx; 29.85.+c; 42.30.Kq
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